RHK Technologie - Oktober 2007 Bild des Monats Zweifarbige Tasse

Mikroskop: Veeco Bioscope-Kontrollen: KennzeichnenXPMProTM Beschreibung RHK Technologie-SPM 1000: Nah-Feld Signalkarten der InGaN Inseln wurden unter Erregung durch zwei verschiedene sichtbare Laser-Wellenlängen, 633 Nanometer gesammelt (Feige. B) und 532 Nanometer (Feige. C). Zerstreute Nahfeld Maße zeigen an, dass der wie-gewachsene InGaN islanded Film nicht homogene in der Zusammensetzung und Belastung-bedingte Änderungen aufweisen kann, die das optische Signal bei 633 Nanometer und 532 Nanometer beeinflussen. Apertureless Nahfeld Mikroskop basiert auf dem kommerziellen Flughandbuch, das durch den SPM Prüfer 1000 gesteuert wird. Linear polarisierte Strahlung von einem HeNe Laser (633 Nanometer) oder von Frequenz-verdoppeltem Nd: YAG cw Laser (532 Nanometer) wird in eine objektive Linse des Mikroskops verwiesen und fokussiert auf die Probe schräg von 30° in Bezug auf die Beispieloberfläche. Zerstreute Strahlung der Rückseite von der Spitzeprobe Kreuzung wird durch die gleiche objektive Linse gesammelt. Optische und Topographiebilder der Probe werden gleichzeitig notiert.