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EBIC Necktie Krawatte
Für Ihren Fehleranalyst oder Halbleiterprozessingenieur, Elektroingenieur oder andere Freunde. Dies ist das Electron Beam Induced Current Image eines 7-nm-SRAM. Erstaunen Sie Ihre Freunde! Finden Sie Fehler und zeichnen Sie Stromflüsse in fortschrittlicher Technologie ab!
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Kundenrezensionen
4.4 von 5 Sternen Bewertung33 Bewertungen insgesamt
33 Bewertungen
Bewertungen für ähnliche Produkte
5.0 von 5 Sternen Bewertung
5 von 5 Sternen BewertungVon Haymo M.18. August 2025 • Geprüfter Kauf
Krawatte
Schnell und unkompliziert ….
5.0 von 5 Sternen Bewertung
5 von 5 Sternen BewertungVon K.2. August 2022 • Geprüfter Kauf
Krawatte
Bewertungsprogramm bei Zazzle
Es ist ein Vergnügen bei Zazzle Krawatten zu bestellen, sie sind einfach besonders ,man findet zu jedem Thema etwas Tolles. Lieferung, Service,Qualität 10 Sterne !!!!
PS.: Lady's , selbst Krawattenmuffel haben als Geschenk ihre Freude daran ! Farbe und Druck sind toll !
4.0 von 5 Sternen Bewertung
4 von 5 Sternen BewertungVon Iyad H.18. April 2021 • Geprüfter Kauf
Krawatte
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Der Stoff passt gut. Der Druck ist gut positioniert
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Andere Informationen
Produkt ID: 151177931955441320
Gemacht am: 8.11.2021, 10:18
Bewertung: G




